设备状态

已购置

主要技术指标

加速电压：200 kV

TEM点分辨率：0.25 nm

STEM 分辨率： 0.16 nm

电子枪亮度：4.0×10⁸ A/cm² srad

洛伦兹模式分辨率：2.5 nm

样品台最大倾角：±90°

配套三维重构、EDS模块、离子减薄设备等

主要功能

材料形貌、电子衍射、高分辨图像及成分分析

材料原子结构分析（重、轻原子）

三维结构分析

磁畴结构分析

主要特点

融合了卓越的高分辨率STEM 和 TEM 成像， 利用智能扫描引擎、基于多个STEM 探测器的四通道合并技术，以及微分相位衬度（DPC/iDPC）成像技术，可以快速、准确地分析材料的结构和成分信息

联系方式

杨老师：15858315249

王老师：15068323396